若放大的波面畸變比較大時,將無法被視為平面波,干涉條紋將較為復(fù)雜,不利于后續(xù)的實驗結(jié)果處理。上海昊量光電設(shè)備有限公司代理的Meadowlark Optics的硅基液晶 (LCoS) 空間光調(diào)制器 (SLM) 采用模擬尋找,專為純相位應(yīng)用而設(shè)計。可以提供高速的響應(yīng)時間和高相位穩(wěn)定性。許多用于表征和校正像差的算法都基于Zernike多項式。然而,對圓形孔徑的依賴不適用于描述正方形或矩形陣列的像差。美國Meadowlark Optics公司已經(jīng)開發(fā)了基于SLM的干涉子孔徑的替代方案,以確保SLM的有效通關(guān)區(qū)域上的像差可以被校正到λ/ 40或更好。如下圖所示, 矯正后的MLO空間光調(diào)制器波前像差(波前 ...
在重疊拉曼光譜中提高光譜分辨率的方法拉曼波段由散射強度構(gòu)成,散射強度是由可極化分子鍵(地面真相)的拉曼散射引起的波長位移的函數(shù),這些散射強度被疊加以產(chǎn)生以矢量s表示的固有拉曼光譜。因此,用矢量m表示的測量光譜被測量儀器點擴展函數(shù)(IPSF)模糊化,該函數(shù)增加了拉曼波段的重疊和峰值參數(shù)失真。給定額外的測量噪聲,用向量n表示,這些關(guān)系可以表示為:其中*表示卷積算子,ipsf是向量形式的ipsf。對于掃描光譜,當(dāng)主要受光學(xué)元件影響時,ipsf趨于高斯分布;當(dāng)主要受狹縫效應(yīng)影響時,ipsf趨于三角形分布。由于這些影響,對于不同類型分子的復(fù)雜混合物,將拉曼波段分配到正確的原始分子類型并確定正確的波段參數(shù) ...
同波長的波前畸變校準(zhǔn)及線性校準(zhǔn),生成相應(yīng)的波前校準(zhǔn)文件(WFC)和線性校準(zhǔn)文件(LUT)。MeadowlarkOptic公司所有型號的SLM都使用高位深度控制器,使用 8 位輸入/12 位輸出控制器使一個 SLM 能夠支持寬波長范圍而不會丟失線性相位電平,滿足真8bit灰度調(diào)制(即8位灰度相位圖的每個灰階都對應(yīng)一個可檢測的,不重復(fù)的相位)。為滿足真8bit調(diào)制,設(shè)備控制器將驅(qū)動電壓細(xì)分為更多的電壓級次(通常為12bit,即4096個細(xì)分電壓級次)。對于特定波長,選取其中256個電壓級生成特定波長下的0~2π映射的LUT,具有目前市面上可實現(xiàn)的Zui高線性度。為滿足高刷新速度帶來的大吞吐量的數(shù)據(jù) ...
及由此引起的畸變外,不產(chǎn)生其他像差。因此場鏡都用單透鏡,并且在不需由它來改變畸變時,都采用平凸透鏡。如果您對相關(guān)產(chǎn)品有興趣,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.arouy.cn/three-level-55.html相關(guān)文獻(xiàn):《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計》(第三版)——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝 ...
由于光學(xué)系統(tǒng)畸變、光學(xué)元件制造產(chǎn)生的缺陷,以及材料的非均勻性等所產(chǎn)生的波前變形,通過測量電磁波的復(fù)振幅分布來實現(xiàn),而復(fù)振幅的測量則是通過將變形波前與理想波前進(jìn)行混合的互相關(guān)完成。波形表示電磁波的復(fù)振幅,干涉波的振幅相同,當(dāng)兩束波的相位相差π時,振幅恰好相互抵消;當(dāng)兩束波的相位相同時,合成波的復(fù)振幅是單一波束振幅的2倍。如下圖2.1所示。2.1復(fù)振幅的合成2.2明暗條紋對比度由于光強便于探測,一般用強度來表示對比度。上式Imax為兩束相干光同相時振幅的時間平均;Imin為反相時 兩束相干光的振幅時間平均。3.干涉儀的分類(1)斐索干涉儀3.1斐索干涉儀與其它干涉儀相比較而言,斐索干涉儀多了一些限 ...
,也能獲得零畸變磁圖像。得到的域圖像仍然被垂直于光入射平面的壓縮,并且需要進(jìn)行線性運算以獲得均衡的圖像映射。典型的應(yīng)用來自磁電復(fù)合懸臂式傳感器磁化反轉(zhuǎn)的克爾顯微鏡圖像如圖1b所示。如果您對磁學(xué)測量有興趣,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提 ...
致圖像和環(huán)路畸變。然而,如果在垂直磁場中測量垂直磁化的介質(zhì)(極性克爾顯微鏡和-磁強計),情況就不同了。在這種幾何結(jié)構(gòu)中,物鏡中的極性法拉第效應(yīng)是zui大的。隨著施加磁場的增大,它甚至可能壓倒來自樣品的克爾信號,如圖2(a)所示。雖然CoPt薄膜的磁飽和是在磁場超過矯頑力后立即實現(xiàn)的,但在超過飽和的磁化回路中,測量的強度相當(dāng)增加,而不是像通常那樣趨于平穩(wěn)。強度增加是由法拉第效應(yīng)引起的,法拉第效應(yīng)給Kerr信號增加了場相關(guān)的對比度[比較圖1(b)]。在某些臨界場(未示出)以上,克爾顯微鏡的相機(同時充當(dāng)MOKE磁強計檢測器)甚至可能“飽和”,即離開其靈敏度范圍。如果您對磁學(xué)測量有興趣,請訪問上海昊 ...
源輸出偏振態(tài)畸變會引入混頻非線性誤差,而NPBS也是一個重要的誤差源。了解更多詳情,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.arouy.cn/three-level-56.html相關(guān)文獻(xiàn):1王勇輝,鄭春龍,趙振堂.基于斯托克斯橢偏測量系統(tǒng)的多點定標(biāo)法[J].中國激光,2012,39(11):163-167.2侯俊峰,于佳,王東光,鄧元勇,張志勇,孫英姿.自校準(zhǔn)法測量波片相位延遲[J].中國激光,2012,39(4):173-179.3王喜寶,宋連科,朱化鳳,郝殿中,蔡君古.連續(xù)偏光干涉法測量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術(shù),2012,36(2):258-261. ...
面反射后發(fā)生畸變,CCD相機采集畸變后的條紋,再利用相位斜率映射 關(guān)系從畸變的條紋圖中計算出待測鏡梯度信息。zui后根據(jù)基梯度數(shù)據(jù)的面形重構(gòu)算法,重建出待測鏡的面形。偏折術(shù)基本原理:首先,LCD顯示設(shè)備顯示預(yù)先編碼的結(jié)構(gòu)光圖案(正弦光柵圖),被測物體表面按照光的反射定律反射這些結(jié)構(gòu)光,并被放置于另一角度的相機采集。然后,通過上面所提到的折疊相位、絕對相位計算方法解調(diào)變形條紋中的相位信息。zui后,根據(jù)建立的相位—梯度—深度或相位—深度關(guān)系,以及標(biāo)定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)參數(shù)得到被測物體的三維形貌數(shù)據(jù)。偏折測量技術(shù)優(yōu)勢:測量范圍寬:能夠測量平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等;對環(huán)境噪聲不敏感:具有非 ...
的選擇,枕型畸變的光敏感面是的PSD邊緣檢測誤差大大降低。圖4了解更多位敏探測器(PSD)詳情,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.arouy.cn/three-level-45.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.aunio ...
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