《幾何光學 像差 光學設計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.arouy.cn了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

正彗差，軸外像差可不予考慮，其結構相對比較簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹折射式望遠鏡物鏡。這類物鏡要達到上述像質要求并無困難，但要求高質量時，要同時校正二級光譜和色球差就相當不易。后者常只能以不同程度地減小相對孔徑才能實現。這類物鏡常用的型式有：1.雙膠合物鏡在玻璃選擇得當時，能同時校正色差、球差和彗差，是可能滿足像質要求的zui簡單形式，但膠合面上的高ji球差使相對孔徑受到限制，且當用普通玻璃時，二級光譜為常量，色球差也無法控制，因而不能獲得高的像質。該型式的優點是結構簡單，工藝方便，光能損失也小，宜于在焦距不長、相對孔徑不大的場合采用。 ...

正彗差，軸外像差可不予考慮，其結構相對比較簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹反射式與折反射式望遠鏡物鏡。一、反射式望遠鏡物鏡反射式物鏡主要用于天文望遠鏡中，因天文望遠鏡需要很大的口徑，而大口徑的折射物鏡無論在材料的熔制、透鏡的加工和安裝上都很困難。因此，口徑大于1米時都用反射式。反射式物鏡完全沒有色差，可用于很寬的波段。但反射面的加工要求要較折射面高得多，表面的局部誤差和變形對像質的影響也大。比較有名的反射式物鏡是雙反射面系統，它有如下二種型式：1.卡塞格林系統如下圖1所示，稱主鏡的di一個大反射面是拋物面；稱副鏡的第二個小反射面是雙曲面。是主 ...

可以減少球面像差。其原因是對周邊入射光線的阻擋。如果沒有光圈，外圍增加的曲率和由此產生的更強的光線折射會促進球面像差的發展。多球面透鏡組合消色器是由一個或多個收集和分散透鏡組合而成的。通常使用一個低折射率的正凸透鏡和一個低折射率的負凹透鏡，并將其粘合在一起。這樣就形成了一個光學系統，改善了球差和色差。例如，在攝影領域的攝影鏡頭中，就使用了消色差。非球面透鏡如果在一個光學裝置中必須考慮各種因素，如高圖像質量、數值孔徑或較大限度地節省空間，非球面是一個較好的選擇。非球面透鏡是旋轉對稱的光學器件，其曲率半徑在徑向上偏離透鏡的中心。由于這種特殊的表面幾何形狀，與球面透鏡相比，非球面可以顯著提高光學系統 ...

通常單獨校正像差。負一倍單組轉像系統所承擔的相對孔徑是物鏡的二倍，為校正軸上寬光束像差只能取較短的焦距，但隨之需承擔較大的視場，對軸外像差不利,難以達到預期的像質。而負一倍雙組轉像系統一般采用二個相同且對稱設置的雙膠合鏡組，并在二鏡組的中間位置放置光闌，如下圖3所示,使鏡筒長度增加了。在共軛距取定后，鏡組的焦距和間隔的選擇與像質有關。間隔大對校正像散有利，但會導致軸外光束漸暈的增加。一般不應使漸暈大于 50%。圖3需要注意，如果只是簡單地加入透鏡轉像系統，則軸外點成像光束在轉像鏡組上的入射高度將大為增加，以致視場較大時，絕大部分光線不能通過轉像系統。為此，可在中間實像平面上加一適當光焦度的透鏡 ...

長的色光，在像差校正良好的情況下，完全被物鏡的數值孔徑所決定。數值孔徑越大，分辨率越高。這就是顯微物鏡什么要有盡可能大的數值孔徑的原因。當顯微鏡物方介質為空氣時，物鏡的極限數值孔徑1，一般zui大只能做到0.9左右。在物與大數值孔徑物鏡之間浸以液體，可提高數值孔徑。常用的液體有折射率為1.5左右的香柏油和某些更高折射率的液體，后者可使數值孔徑達到1.5。由于數值孔徑只能在1左右變動，光學顯微鏡的極限分辨距與所用色光的波長同一數量級。浸液物鏡需要把浸液作為物方介質來專門設計。為充分利用物鏡的分辨率，使已被物鏡所分辨的物體細節能被眼睛看清，顯微鏡必須有恰當的放大率，以便把細節放大到足夠使人眼能分辨 ...

鏡光學器件的像差，或者更隱蔽地，由樣品組織本身的光學性質，分辨率可能會受到負面影響。Sandstr?m解釋說，將聲光偏轉器(AOD)運用在共聚焦顯微鏡中，代替傳統的振鏡掃描激光來解決這些限制。在聲光結構中，聲波被應用于某些類型的光學透明材料，如晶體，引起材料折射率的變化。這種折射率的變化使穿過材料的光發生偏轉。通過應用時變聲波，偏轉角度可以迅速改變，允許快速和精確的掃描激光束。AOD可用于掃描x和y軸的激光束，包括任意感興趣的路徑，可以提供樣品的高速，高分辨率的掃描。這可以顯著提高共聚焦和多光子顯微鏡的成像深度和速度，使實時捕獲代謝過程和其他動態過程成為可能。此外，AOD可用于調制激光束的強度 ...

是校正高ji像差的困難，結構簡單的物鏡無法解決這一問題。這就決定了顯微物鏡將有相當復雜的結構型式。顯微物鏡有折射式、反射式和折反射式三類，但絕大多數實用的物鏡是折射式的。折射式顯微物鏡又可根據質量要求的不同而有不同的類型。一、消色差物鏡這是應用zui廣泛的一類物鏡，一般只要對軸上點校正好色差和球差，并使之滿足正弦條件而達到對近軸點消彗差即可，因此只能用于中低檔的普及型顯微鏡中作一般觀察之用。下面幾種典型的消色差物鏡，由于其結構型式有利于帶球差的校正，仍為人們所廣泛采用。1）單組雙膠合低倍物鏡 見圖下圖1，這是可能實現上述像差要求的zui簡單結構，能承擔的zui大相對孔徑為1:3，因此數值孔徑只 ...

法的高光譜無像差顯微鏡的分辨率都可以通過將理論衍射限制分辨率與所利用光源的M2因子相乘來估計。確定M2因子的程序由ISO標準11146定義。它涉及到光束焦散的測量(在一個瑞利距離內至少五個光束位置[ ZR ]和距離腰部超過兩個瑞利長度的五個位置)，從中可以計算M2，分析使用強度分布方法的D4σ秒矩獲得的光束半徑的演變。在本節中，我們提供了典型的中紅外zblan超連續介質源(NKT Photonics, SuperK Compact, 40 mW輸出功率)的M2特性。為了獲得中紅外超連續光譜發射的光束質量，建立了一種全鏡聚焦光學布置(以消除色差):使用焦距750 mm的金色球面鏡。使用合適的帶通 ...

平面度、波面像差和材料的均勻性等。菲索干涉儀的原理基于等厚干涉，當光線在兩個平行表面之間多次反射時，會產生干涉條紋，通過分析這些干涉條紋，可以測量出表面的微小不平整度。菲索干涉儀的構造通常包括以下幾個部分：1.光源：提供穩定的單色光或準單色光。2.準直系統：將光源發出的光變成平行光束。3.分束器：將光束分為參考光束和測試光束。4.標準平面或球面：作為參考表面，與被測表面形成干涉。5.被測光學元件：待測量的光學表面。6.成像系統：用于觀察和記錄干涉條紋。菲索干涉儀的應用非常廣泛，它可以用于檢測透明平行平板的光學厚度均勻性，也可以用于測量球面的面形和曲率半徑。此外，菲索干涉儀還可以檢測無限、有限共 ...