PCBA上的涂層厚度測(cè)量在pcb制造過程中，通常采用保形保護(hù)涂層來保護(hù)電路。根據(jù)規(guī)格要求涂不同的涂層。涂層范圍從簡單的水溶性防塵涂層(通常< 20μm)到專門的疏水涂層(<1 μm)。MProbe 40可以直接在PCBA上測(cè)量涂層厚度，以避免使用測(cè)試片的成本和不準(zhǔn)確性。測(cè)量可以在PCBA的不同區(qū)域進(jìn)行，包括SMT元件表面，以驗(yàn)證涂層的均勻性和厚度。測(cè)量通常使用40 μm或20 μm的可見或可見-近紅外范圍(400-1000 nm)的測(cè)點(diǎn)進(jìn)行。實(shí)例1 測(cè)量PCB表面的水溶性涂層圖1 涂覆PCB的反射光譜圖2 PCB測(cè)量區(qū)圖3 測(cè)量結(jié)果:18.4μm涂層和0.6μm界面層圖4 PCB上 ...

粗糙表面上的膜厚測(cè)量由于光散射，粗糙表面上的薄膜厚度測(cè)量通常具有挑戰(zhàn)性。事實(shí)上，表面粗糙度和厚度不均勻性是降低光譜反射系統(tǒng)厚度測(cè)量能力的兩個(gè)主要因素。然而，這些特性通常存在于許多現(xiàn)實(shí)生活中，例如金屬涂層。MProbeMSP提供了一種解決方案來克服這一限制，甚至可以測(cè)量z具挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。解決方案的關(guān)鍵是表面粗糙度和厚度不均勻性都取決于測(cè)量區(qū)域。通過減小測(cè)量點(diǎn)尺寸，可以減少有效粗糙度和厚度不均勻性（在該點(diǎn)內(nèi)觀察到）。一、表面粗糙度表面粗糙度會(huì)導(dǎo)致光散射增加。這導(dǎo)致鏡面反射率降低和干擾減弱。編織長度越短，光散射越明顯。因此，長可見光和近紅外(NIR)波長范圍(700-1700nm)更適合表面粗糙度的 ...

該波導(dǎo)由一個(gè)折射率高于周圍材料的通道組成。圖1：集成光波導(dǎo)光通過通道壁的全內(nèi)反射來引導(dǎo)。根據(jù)波長、襯底折射率、折射率差、通道的寬度和深度，可以激發(fā)一個(gè)或多個(gè)橫向振蕩模式。單模操作是非常有價(jià)值的，因?yàn)樗窃S多集成的光學(xué)元件的功能。集成光學(xué)元件特別是在光通信技術(shù)中通常配備光纖，線性電光效應(yīng)，也稱為波克爾效應(yīng)，是一種二階非線性效應(yīng)，包括在外加電場(chǎng)時(shí)光學(xué)材料折射率的變化。折射率的變化量與電場(chǎng)強(qiáng)度、其方向和光的偏振率成正比。制造集成光調(diào)制器的shou選材料是鈮酸鋰（LiNb3）。如果使用長度為L的電極將電場(chǎng)施加于電導(dǎo)，則電極之間區(qū)域的折射率會(huì)發(fā)生變化，從而產(chǎn)生引導(dǎo)光的相移，相移與所施加的電壓會(huì)呈線性關(guān)系 ...

致電光晶體的折射率變化。然后可以用精確的測(cè)量設(shè)備檢測(cè)到這種變化。由于電光材料是一種介電材料，它不會(huì)干擾或散射電磁場(chǎng)。此外，由于光纖電纜用于傳輸信號(hào)，任何附加的布線都不會(huì)吸收噪音，因此，探頭可以在非常嘈雜的環(huán)境中使用，并且測(cè)量的信號(hào)僅與探頭位置的e場(chǎng)有關(guān)。zui后，電光響應(yīng)非常快，因此電光電場(chǎng)傳感器可以用來調(diào)制光信號(hào)，從而檢測(cè)太赫茲范圍內(nèi)的電信號(hào)。大尺寸回音壁模式環(huán)形諧振器調(diào)制器和波導(dǎo)馬赫-曾德爾調(diào)制器已被用于檢測(cè)射頻e場(chǎng)。具有高品質(zhì)因數(shù)的光環(huán)諧振器可以提高傳感器的靈敏度，但測(cè)量帶寬(BW)將受限于微環(huán)諧振器的帶寬波導(dǎo)馬赫曾德爾調(diào)制器具有較高的帶寬，但體積大，空間分辨率低另外，塊狀晶體可用于測(cè)量 ...

場(chǎng)改變材料的折射率，產(chǎn)生偏振和相位調(diào)制，也稱為波克爾斯效應(yīng)。電光效應(yīng)在瞬間有效發(fā)生，實(shí)現(xiàn)了高時(shí)間分辨率。此外，全介電電磁傳感器產(chǎn)生的采樣電場(chǎng)畸變可以忽略不計(jì)。利用飛秒(fs)近紅外(NIR)激光脈沖與自由傳播的單周期亞皮秒太赫茲輻射脈沖或瞬態(tài)電場(chǎng)時(shí)間同步，探測(cè)太赫茲頻率電場(chǎng)誘導(dǎo)下電光晶體的折射率變化。靈敏度取決于光晶體的波克爾斯系數(shù)、在光晶體中傳播的太赫茲波和近紅外波的速度匹配以及它們的相互作用長度。鈮酸鋰(LN)是一種用于高頻電場(chǎng)傳感的通用材料，因?yàn)樗哂写蟮碾姽獠牧舷禂?shù)，對(duì)可見光和近紅外波(0.4-5μm)具有高透明度，對(duì)RF, mm和THz波(< 10 THz)具有低吸收。由絕緣體 ...

丙烯酸涂層厚度測(cè)量丙烯酸涂層厚度測(cè)量在許多行業(yè)中都很重要。例如，在食品工業(yè)中， 丙烯酸涂層用于汽水罐內(nèi)部，以防止液體與金屬表面相互作用。在制藥行業(yè)，它用于小瓶和其他容器的內(nèi)/外蓋。薄的丙烯酸基涂層經(jīng)常沉積在鋼或鋁板上，以保護(hù)金屬免受腐蝕。MProbe 提供定制解決方案，可直接測(cè)量產(chǎn)品上的丙烯酸涂層厚度：罐內(nèi)或外部、瓶蓋內(nèi)或大片材上。MProbe Vis 系統(tǒng)可以在線和桌面上快速、準(zhǔn)確、無損地測(cè)量涂層厚度。如果是桌面系統(tǒng)，則使用MProbe Vis 或MProbeHC。MProbeHC用于無法放置在樣品臺(tái)上的大型或彎曲金屬板。對(duì)于在線 應(yīng)用，MProbeVis 頭與掃描儀集成或多通道版本。每個(gè)M ...

同光波長下的折射率(R.I.)。可以創(chuàng)建新的柯西材料并指定特定光刻膠的柯西系數(shù)如果光致抗蝕劑的柯西系數(shù)不可用–使用類似光致抗蝕劑的柯西系數(shù)作為起點(diǎn)。步驟 2：創(chuàng)建膠片堆棧Filmstack 代表物理樣本的模型- 它定義了基材和材料層。如果3000nm 的光刻膠沉積在Si 晶圓上，薄膜疊層將是Si 襯底/3000nm PR。這里PR 將是步驟1 中定義的光刻膠材料。步驟 3. 進(jìn)行測(cè)量測(cè)量實(shí)際上是一個(gè)兩步過程：數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。它們由 TFCompanion 軟件透明地處理。在第1次測(cè)量期間，可能會(huì)也可能不會(huì)得到完美的結(jié)果——需要調(diào)整膠片疊層。如果光刻膠的厚度足夠厚（> 1um），可以從 ...

材上的涂層，折射率差異<0.1反射條紋p-p幅度~0.1%。模型根據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，厚度/n&k被準(zhǔn)確確定。為了進(jìn)行比較，許多流行的可見光譜儀中使用的SonyILX和Toshiba1304探測(cè)器的DNR約為1000。使用這些探測(cè)器之一進(jìn)行圖1中的測(cè)量會(huì)更加困難。另一方面，像S10420這樣的高質(zhì)量CCD探測(cè)器的DNR約為40K至50K，并且可以準(zhǔn)確測(cè)量0.01%的反射率。實(shí)際上，需要對(duì)固定模式噪聲進(jìn)行非常精確的校準(zhǔn)才能測(cè)量低信號(hào)電平的信號(hào)。信噪比(SNR)SNR提供了信號(hào)質(zhì)量的衡量標(biāo)準(zhǔn)——它將信號(hào)的功率與噪聲的平均功率進(jìn)行比較。max信號(hào)達(dá)到max信噪比。噪聲源有很多，但大信號(hào)受到 ...

如何提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比之前提到了光譜儀規(guī)格中的信噪比，那么我們?cè)撊绾胃倪M(jìn)呢？如何提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比？使用信號(hào)平均可以提高動(dòng)態(tài)范圍和信噪比。圖2顯示了10次平均值和不同像素?cái)?shù)的附加Boxcar平均值的效果。MProbe系統(tǒng)中的默認(rèn)測(cè)量配方有10個(gè)平均值和5像素Boxcar平均值。這提供了約35K的動(dòng)態(tài)范圍和約2500SNR。圖2 平均對(duì)動(dòng)態(tài)范圍和信噪比的影響。偏移、暗信號(hào)和非線性CMOSS11639對(duì)于小信號(hào)（~范圍的30%）自然是線性的，而對(duì)于高信號(hào)則非常非線性。非線性校正對(duì)于反射率/透射率測(cè)量至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈円蕾囉趨⒖紒泶_定絕對(duì)值。在Ariel光譜儀中，非線性會(huì)在固件中自動(dòng)校正。非線性 ...

應(yīng)用：測(cè)量金屬板上的聚酯涂層薄聚酯涂層用于保護(hù)用于高科技制造的鋼板免受腐蝕。涂層厚度和均勻性測(cè)試對(duì)于確保涂層的指定性能非常重要。該測(cè)試通常是離線完成的，以調(diào)整制造工藝。MProbeVis-MSP提供了一種快速、準(zhǔn)確且無損的方法來測(cè)量聚酯薄膜的厚度。鋼上透明聚酯的反射光譜（可見光范圍）鋼上白色聚酯的反射光譜（近紅外范圍）眾所周知，聚酯薄膜的厚度很難使用光學(xué)非破壞性方法進(jìn)行測(cè)量。主要原因是涂層的質(zhì)地和微觀不均勻性。如果是不透明的高散射涂層，NIR范圍（MProbeNIR-MSP波長900-1700nm）需要與小光斑一起使用。MProbeMSP系統(tǒng)允許在小點(diǎn)進(jìn)行本地化測(cè)量。對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行高ji數(shù)據(jù)分 ...