折射式望遠鏡物鏡一般說，望遠鏡物鏡的視場較小，例如大地測量儀器中的望遠鏡，視場僅 1~2度；天文望遠鏡的視場則是以分計的；而一般低倍率的觀察用望遠鏡，視場也只在10 度以下。但物鏡的焦距和相對孔徑相對較大，這是為保證分辨率和主觀亮度所必需的，可認為是長焦距、小視場中等孔徑系統。因此，望遠鏡物鏡只需對軸上點校正色差、球差和對近軸點校正彗差，軸外像差可不予考慮，其結構相對比較簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹折射式望遠鏡物鏡。這類物鏡要達到上述像質要求并無困難，但要求高質量時，要同時校正二級光譜和色球差就相當不易。后者常只能以不同程度地減小相對孔徑 ...

二維電子系統中砷化鎵的磁光克爾效應除了本體砷化鎵的自旋注入實驗外，二維電子系統的自旋注入實驗進行光學測量并不像在大塊GaAs樣品上進行pMOKE測量那么簡單，因為2DEG對稱性的降低可能會嚴重影響光學選擇規則，從而影響pMOKE的強度。事實上，研究表明，在狹窄(約10 nm寬)的GaAs/(Al,Ga)As量子阱(QW)系統中，約束勢迫使價帶中重空穴態的軌道角動量和自旋角動量向垂直于QW平面的面外方向運動。此外，約束提升了Γ-point處重空穴態和輕空穴態的簡并性，將輕空穴帶移至較低能量處(見圖1)。考慮到這兩個因素，只有面外極化重空穴才能促進與導電帶電子的復合過程。這對磁光過程有重大影響。在 ...

應、磁線陣雙折射、塞曼效應、磁光克爾效應等。（１）磁光法拉第效應磁光法拉第效應又稱磁光旋光效應，是指當一束線偏振光從磁光材料沿磁場方向透射時，由于材料折射率的不同，磁光材料中的左旋和右旋偏振光，即偏振面相對于入射光的偏振面偏轉一定角度的一種磁光現象。法拉第效應產生的根本原因是磁光材料中的電子等磁性粒子發生光學躍遷。在磁場的作用下，這種躍遷使得在磁光材料內部傳輸的左旋圓偏振光和右旋圓偏振光產生一定的色散差，導致zui終透射光的偏振面相對入射光旋轉了一定角度。（２）磁線振雙折射當一束線偏振光以垂直于磁場方向的方向從磁光材料傳輸時，線偏振光被分解成兩個偏振光，兩種偏振光在材料中以不同的相速度傳播，即 ...

窮大能量時的折射率,Eg,Ａ,Ｂ,Ｃ則為正的常數；10.形模型 為了在較寬的頻譜上表達物質的光學常數,一般需要考慮上述多種模型，則可以得到：Ｌ(Ｅ)為某些特定的線形,例如高斯線形、洛倫茲形、臨界點線形等, Ｂ(Ｅ)為能量緩變的背景。如果您對橢偏儀相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國 ...

膜層的厚度及折射率和 吸收系數，檢驗膜層的均勻性，幫助鑒別膜層組分，測量物質的折射率和消光系數，研究各種表面層和表面過程，諸如氧化、腐蝕、吸附、潤滑、催化等。因此，橢偏光儀在許多工業部門和基本研究中都可應用。（1）固體薄膜光學性質的測量應用橢偏術可對單層吸收膜、雙層膜及多層膜進行測量,得到材料的光學常數折射率Ｎ和吸收系數Ｋ,進而得到其介電常數。近年來也實現了對離子注入損傷分布的測量、超晶格、粗糙表面、界面的測量。（2）物理吸附和化學吸附用橢偏術方法在現場且無損地研究過與氣態、液態周圍媒質相接觸地表面上吸附分子或原子形態的問題。（3）界面與表面的應用橢偏廣泛用于研究處于各種不同環境中的材料的表面 ...

簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹反射式與折反射式望遠鏡物鏡。一、反射式望遠鏡物鏡反射式物鏡主要用于天文望遠鏡中，因天文望遠鏡需要很大的口徑，而大口徑的折射物鏡無論在材料的熔制、透鏡的加工和安裝上都很困難。因此，口徑大于1米時都用反射式。反射式物鏡完全沒有色差，可用于很寬的波段。但反射面的加工要求要較折射面高得多，表面的局部誤差和變形對像質的影響也大。比較有名的反射式物鏡是雙反射面系統，它有如下二種型式：1.卡塞格林系統如下圖1所示，稱主鏡的di一個大反射面是拋物面；稱副鏡的第二個小反射面是雙曲面。是主鏡的焦點，又是副鏡的虛焦點，因而滿足等光程 ...

確定光學薄膜折射率和厚度。因其準確度高且為非破壞性測量，是測量光學薄膜折射率和厚度zui常用的一種測量儀器。橢圓偏振術的數學模型為式中:— 偏振角；Δ— 兩個偏振分量的相位差經薄膜后所發生的變化；d — 薄膜厚度；n0— 空氣折射率；n1— 薄膜折射率；n2— 襯底折射率；— 入射角度；— 入射光波長。和Δ分別反映了偏振光經過薄膜反射前后強度和相位的變化，統稱為橢偏角。目前，基于橢偏角的橢偏儀校準方法主要采用的是空氣測量法。空氣測量法驗證橢偏角準確度的過程是調整光譜型橢偏儀入射角，使入射光直接入射到其接收器。由于偏振光直接經過空氣進入接收器，可以認為偏振光狀態并未發生改變，因此上式右側的結果為 ...

斯涅爾定律和折射定律式上述兩個定律可以轉換為式中:rp— P 光反射系數；rs— S 光反射系數；θ1—入射角；θ2— 折射角；n1 — 空氣折射率；n2 — 平行平晶折射率。求解上式可得：此時，我們能夠很容易發現：橢偏角只與平行平晶的折射率相關，因此，只要確定了平行平晶的折射率即可得到橢偏角。下圖給出了使用折射率為1.46的平行平晶驗證光譜型橢偏儀橢偏角的實例。其中被校橢偏儀的入射角度為65°,求解上式可得的理論值為14.48°, Δ 的理論值為0° ,實際測量結果與理論值相差不超 過 ±0.5°。(a)橢偏角驗證結果 (b)橢偏角Δ驗證結果以上方法使用空氣和平行平晶作為標準，對橢偏儀特定橢 ...

，其中晶體的折射率隨驅動器提供頻率的變化而變化。當相干光束穿過晶體時，只有一窄帶的頻率滿足相位匹配條件，并且以未衍射光束不同的角度離開晶體，而這便形成了衍射光斑。晶體的幾何形狀對于獲得所需的性能至關重要。大多數高端聲光器件都是按標準規格制造的，G&H是一家行業內領xian的專業公司，提供廣泛的聲光可調諧濾波器，覆蓋從紫外到中紅外的波長，帶寬小于1nm。G&H的聲光可調諧系統包括電子控制、可配置驅動器，以提高操作人員的靈活性和反饋穩定系統。無論工作環境條件如何，均可以保持波長的穩定性。G&H還運用了一項獲得專li的旁瓣抑制技術，以提高頻譜純度。（更多產品信息請參考：htt ...

來將入射光線折射到所需程度。例如，在成像系統中，高圖像質量起著決定性作用，并伴隨著低成像誤差。此外，它還可以通過考慮各種因素來提高--取決于現有系統的要求。這些因素包括，例如，所用光源的位置或有效孔徑的選擇。通過使用幾個球體也可以提高圖像質量，但這是一個關于鏡頭形狀和光學系統現有空間條件的問題。通過選擇有效光圈，也可以減少球面像差。其原因是對周邊入射光線的阻擋。如果沒有光圈，外圍增加的曲率和由此產生的更強的光線折射會促進球面像差的發展。多球面透鏡組合消色器是由一個或多個收集和分散透鏡組合而成的。通常使用一個低折射率的正凸透鏡和一個低折射率的負凹透鏡，并將其粘合在一起。這樣就形成了一個光學系統， ...