雙折射測量技術介紹1.理論基礎（1）偏振光盡管光具有波動性和粒子性，當處理偏振光時只考慮粒子性。光可以看作是橫向電磁波，因此光由電場振動和磁場振動組成。但是，一般來說只考慮電場振動。我們可以把它分解成相互垂直方向上的兩個振動來處理電場振動。如下圖所示，1.1偏振光的分解起偏器是由和光波長相比足夠小的光柵制成，或者由一特定偏振方向的光吸收材料組成，如果在光路中安裝起偏器，光線是否能透過起偏器就取決于光的振動方向。也就是說，光透過起偏器只有一個振動方向。這里，因為振動方向是直線的，所以稱為線性起偏器，振動方向的平面稱為偏振面。一般，用p偏振光和s偏振光來表達偏振態。當光入射于介質時，入射光方向與法 ...

的光學常數、折射率等參數的信息，并進一步推斷材料的結構和性質。例如，通過不同偏振狀態下的光強變化，可以研究材料的各向異性和光學吸收行為。光偏振在MOKE顯微鏡中起到了重要的作用，在進行磁光克爾顯微鏡測量時，我們得充分考慮光偏振的影響，并合理利用光偏振來優化實驗條件。如果您對磁學測量相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.arouy.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材 ...

線性和非線性折射率(n0= 2.0 ~ 3.5， n2= 2 ′10 -18~ 2 ′10 -17m2 /W)、超快的非線性響應(響應時間< 100 fs)[1]，且玻璃成分和性能連續可調，在中長波紅外波段具有良好的透過率和較高的非線性。因此被看作是制備中紅外光學器件和非線性光學器件的zui佳候選材料之一，在紅外傳輸、非線性光學、紅外激光、半導體等領域都受到了廣泛的關注和深入地研究。硫系玻璃為主導的硫族元素玻璃引起的研究熱潮，不僅促進了紅外技術的進步，也實現了硫系玻璃的商業化。從而衍生出許多種類的硫系玻璃光纖及光纖器件。(1) 硫系玻璃光子晶體光纖硫系玻璃光子晶體光纖又稱硫系玻璃微結構光 ...

介質之間存在折射率、形狀、位置等差異而導致的部分能量被反射或透射出去的現象。耦合損耗與兩個介質之間的匹配程度有關，一般隨著匹配程度的提高而減小。光纖損耗的主要影響因素有以下幾個方面：光纖材料：光纖材料的選擇和制造工藝會影響光纖的吸收損耗和散射損耗。一般來說，玻璃光纖比塑料光纖具有更低的吸收損耗和散射損耗，但也更容易受到彎曲和斷裂的影響。因此，需要根據不同的應用場景和要求來選擇合適的光纖材料。光信號波長：光信號波長會影響光纖的吸收損耗、散射損耗和彎曲損耗。一般來說，較短的波長會導致較大的吸收損耗和散射損耗，而較長的波長會導致較大的彎曲損耗。因此，需要根據不同的光纖類型和特性來選擇合適的光信號波長 ...

樣品的厚度和折射率的分布情況，橫向分辨率可 以達到10μm。該系統采用彩色CCD攝像機，將來自樣品表面的反射光的每個偏振轉換為強度分布，該強度分布是膜厚度和折射率的函數；并且將強度 分布顯示為顏色分布，當樣品的折射率均勻時，樣品的厚度變化就可以快速表現為顏色的差異。該系統雖然利用不同濾光片產生三種波長的單色光，可以進行三波長測量，但是無法得到樣品的寬光譜信息。2004 年，法國的 Boher 等設計出一種光譜橢偏成像系統，采用白光源和四個濾光片分別得到不同波長的單色光波，橫向空間分辨率也已經優于10μm。德國的Nanofilm公司研制了一種通過更換濾光片來獲取多個波長下樣品參數的光譜橢偏成像系 ...

常用的液體有折射率為1.5左右的香柏油和某些更高折射率的液體，后者可使數值孔徑達到1.5。由于數值孔徑只能在1左右變動，光學顯微鏡的極限分辨距與所用色光的波長同一數量級。浸液物鏡需要把浸液作為物方介質來專門設計。為充分利用物鏡的分辨率，使已被物鏡所分辨的物體細節能被眼睛看清，顯微鏡必須有恰當的放大率，以便把細節放大到足夠使人眼能分辨的程度。分別取2’和4’為人眼分辨角的下限和上限，則人眼在明視距離處能分辨開二點的間距即為被顯微鏡放大以后的像，有對于目視光學儀器，主色光的波長為0.00055，則500A< M <1000A滿足此公式的放大率稱為顯微鏡的有效放大率。可見，該有效放大率被 ...

的通信波導的折射率對比度和色散提供了有效方法，并且能夠提供有效的光譜分辨率，從而獲得波導的色散指數。除此之外，橢偏成像技術可以用于對導電聚合物膜層的研究，通過橢偏成像可以獲得聚合物層的空間分布信息和不同厚度層的顯著形態差異。 此外，橢偏成像還應用在原位測試方面。例如對界面氧化層變化的分析可以顯示氧化層厚度變化，精確到納米級 。對于水媒質中油滴到達石英固體表面上時形貌的變化，橢偏成像能夠準確地測定在液滴和界面之間發生薄膜排水時液滴輪廓的變化。該技術對厚膜和薄膜的測量都很敏感，無需掃描表面，可實時生成薄膜輪廓。到目前為止，橢偏成像技術在納米材料檢測方面已經取得長足的進步， 橢偏光譜成像已經可以對復 ...

退偏。線性雙折射是指線偏光的兩個正交分量的折射率差，圓偏光雙折射是指左旋和右旋偏振光之間的折射率的差值。衰減則定義為偏振光zui大zui小透過率差值的比值。總之，有6個參數來表征非退偏樣品的延遲和衰減特性，線性位相延遲器的大小，線性位相延遲器和圓偏光位相延遲器的快軸角度,線性衰減器的大小,線性位相衰減器和圓偏光衰減器的角度。（4）PEM光彈調制器是一種基于光彈效應的共振偏振調制器。光彈效應是由機械應力導致的透明介質固體中的線性雙折射。光彈調制器發明于1960年。其中設計zui成功的光彈調制器包括了一個矩形的熔石英和一個有單晶石英制成的壓電傳感器。PEM是由各向同性的光學材料制成的，如石英等。P ...

體，引起材料折射率的變化。這種折射率的變化使穿過材料的光發生偏轉。通過應用時變聲波，偏轉角度可以迅速改變，允許快速和精確的掃描激光束。AOD可用于掃描x和y軸的激光束，包括任意感興趣的路徑，可以提供樣品的高速，高分辨率的掃描。這可以顯著提高共聚焦和多光子顯微鏡的成像深度和速度，使實時捕獲代謝過程和其他動態過程成為可能。此外，AOD可用于調制激光束的強度，從而可以在光柵掃描期間執行消光，這有助于進一步提高分辨率。在聲光偏轉器中，壓電換能器在材料中產生布拉格光柵。光闌只允許經過衍射的光束通過。由G&H提供。綜上所述，聲光和其他有源光子元件集成到顯微鏡中的zui新發展開始解決共聚焦和多光子顯 ...

線經過衍射、折射并反射到顯微鏡物鏡內，形成疊加在深色背景上的明亮樣品圖像。這種深色背景能夠提供較高的對比度，并且輕松讓背景效果不佳的標本更加突出。下面是一些圖片示例。暗場顯微鏡x1000所見紅細胞暗場顯微鏡圖像——顯微水螨幼蟲的暗場圖像暗場顯微鏡圖像——有絲分裂蔥根尖暗場照明需要阻擋通常穿過樣品和環繞樣品周圍的大部分光線，僅允許傾斜光線照射在樣品上。暗場聚光鏡的頂部透鏡為球形凹面，其允許從頂部透鏡表面發射的光線形成一個倒置空心圓錐體，并將焦點集中在樣品平面上。在沒有樣品且聚光鏡數值孔徑大于物鏡的地方，傾斜光線會相互交叉并錯開物鏡，從而讓這些區域變暗。將標本（尤其是未染色且不吸收光線的標本）放在 ...