，引起漸暈的光闌叫做漸暈光闌。一般用漸暈系數K來描述光束漸暈的程度，有兩種表示方式，即面漸暈系數與線漸暈系數，分別定義如下：面漸暈系數：軸外物點能通過光學系統的成像光束在入（出）瞳面上的截面積與入（出）瞳面積之比。線漸暈系數：軸外物點能通過光學系統成像的子午光束在入（出）瞳面上的線度與入（出）瞳直徑比。漸暈系數K=1表示無漸暈，K=0表示極限情況，可以得到極限視場。容易得出，光孔離孔闌越遠，越容易引起漸暈。由于每個光孔都有一定大小，所以在沒有視場光闌的系統中，一定存在漸暈光闌，在這種情況下，由漸暈光闌限制視場的大??；而在有視場光闌的系統中，也可能存在漸暈光闌。如果把遠離孔闌的透鏡直徑取的太大時 ...

孔徑光闌、入射光瞳和出射光瞳在一個光學系統的若干通光孔中，一定有一個光孔起著限制成像光束的作用。在下圖所示的系統中，它由兩個透鏡組及其之間的一個專設光闌Q所組成，一共有三個光孔Q_1, Q_2和Q。在下圖中，自物體中心，即軸上點A發出的與光軸成不同角度的三條光線，分別經過三個光孔的邊緣，其中經光闌Q邊緣Q_1點的光線與光軸的夾角最小，這表明，從A點發出的光束之中，只有比此角小的光線才能通過系統參與成像。所以在這個系統中，光闌Q起著限制成像光束的作用，是系統的孔徑光闌。在上圖中，我們可以畫出孔闌被其前面的鏡組Q_1所成的像P_1 PP_2.我們也可以畫出光孔Q_2被其前面的鏡組所成的像。在所有光 ...

曼采用挖孔的光闌技術制作完成了世界上第一個可以用于檢測波前的傳感器。第二階段，1971年R.K.Shack采用為透鏡陣列研發成功了精度更高的夏克-哈特曼波前分析儀。2000年法國Phasics研發團隊采用四波剪切干涉技術成功研發了基于四波橫向剪切干涉技術（4-Wave Lateral Shearing Interferometry），該波前探測器具有高分辨率（400X300）、高動態范圍（500 um）、消色差、高靈敏度、高相對精度（2nm RMS）、無需校正、體積小、操作簡便等特點。上海昊量光電設備有限公司代理的法國phasics波前相差儀可以實時測量成像系統瞳面波前誤差，然后將這些測量數據 ...

D1、D2為光闌，SLM為純相位空間光調制器的液晶反射面板，測試用激光波長為780nm。華東師范大學研究人員利用此方法制得的光波導截面和側面結構圖如下所示，且對所制得的光波導功能測試顯示此方法可行。昊量光電獨家代理多種純相位型空間光調制器，歡迎您的咨詢。 ...

統焦距為f,光闌直徑為D,理想情況下的均勻平面波聚焦后,聚焦光斑（艾里斑）半徑為ωf=1.22λf/D，而遠場發散角θ=ωf/f。激光遠場發散角θ表明了激光不顯著發散開來可傳播的距離，與聚焦能量有關，是常用的光束質量判據。2.光束質量因子β光束質量因子β（又稱為衍射極限倍數因子）是使用較為廣泛的一種激光光束質量評價指標，其定義為實際光束遠場發散角θ（上文中的遠場發散角）與理想光束遠場發散θ角之間的比值，即β=θ/θ 。實際光束的β值一般均大于1，β數值越小，光束質量越高（類似于M ）。但是運用β評定光束質量時需要忽略不計測量系統造成的衍射影響，β因子必須與測量光學系統的參數無關，此時它是衡量激 ...

次諧波可通過光闌并被探測器接收，而基頻光則被擋在探測器靶面外。與共線型相比，該方法可以消除信號光中的背景光，能提供更高的測量精度，因此是目前使用更加廣泛的檢測機制。昊量光電提供各種通用型及及針對各類應用專用型自相關一。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

設置在球心處光闌移動對球差沒影響，但對像散和慧差有影響，但當球差為零時，慧差與光闌的位置無關。使用光束分析儀可以在成像位置觀察到光斑的形狀，觀察其是否有彗星狀拖尾的像差來判斷其是否存在較大的慧差。如果使用定量的方法來計算慧差的大小，慧差和光束的口徑的平方成比例，所以對于目鏡來說，其光束口徑較小，所以慧差也不會太大。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

向補償2. 光闌位置光闌在整個系統前以及后都會引入較大畸變，如手機鏡頭的視場光闌一般位于第一個面3. 減小視場縮小市場可以有效減少大視場所帶來的畸變您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

光軸上一點到光闌邊緣的光線與光軸的夾角。由于數值孔徑的定義中考慮了折射率的因素，因此一束光在通過平面由一種介質進入另一種時，數值孔徑仍是一個常量。在空氣中，透鏡的孔徑角大小近似等于數值孔徑的兩倍（在近軸近似的條件下）。數值孔徑是相對于物或像上的特定一點而言的，因此其大小也會隨著該點的移動而改變。在顯微學領域，如不特加注明，數值孔徑一般是針對物一側而言的。2.焦深物鏡的焦深為物鏡對表面較為不平的樣品仍能夠清晰成像能力的參數，當物鏡準確聚焦于某一樣品表面時，如果位于該表面前面及后面的物面仍然能被觀察清晰，則該兩前后平面間的距離就是焦深。物鏡的焦深主要取決于物鏡的數值孔徑，數值孔徑越大，焦深越小。在 ...

時，需要采用光闌來限制光束的大小。第二，被測樣品楔形角的影響。為減小該因素的影響，可以使光束盡量準直，并且盡量采用大口徑的積分球探測器。第三，光線偏振效應。盡量讓樣品垂直放置，并且加上偏振測試裝置。第四，光譜儀的光譜分辨率。選擇合適的分辨率，濾光片要求較高的分辨率。第五，空氣中某些充分吸收帶的影響。比如空氣中的二氧化碳吸收，解決措施是樣品室里面充氮氣。第六，被測樣品后表面的影響。測試透過率時不可避免引入后表面的影響，需要通過計算消除這種影響。3.光學相干檢測技術由于激光的相干技術測量的尺度通常與激光波長相當，當前被廣泛運用于精密測量技術，其中自混合干涉技術（SMI）技術正在被廣泛運用于傳感器領 ...