波前畸變，使物鏡得到接近衍射極限的目標像。四波剪切干涉技術原理：剪切干涉技術基本原理是將待檢測的激光波前分成兩束，其中的一束相對于另一束橫向產生一些錯位，兩束錯位的光波各自保持完整的待測波前信息，相互疊合后，產生干涉現象，CCD/CMOS相機會接收干涉圖樣，進行相應的計算分析，從而利用傅立葉變換的相關計算，分析出待測波前的相位分布，以及強度分布等。基于干涉條紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測波前的偏離范圍較傳統的哈特曼傳感器具有更大的優越性。波前傳感器的典型應用光在傳輸的過程中會經過不同的介質，不同的介質由于其構成物質的分布不均勻，從而導致光的波前產生各種各樣的變化，自適應系統便 ...

z的速率掃描物鏡來實現。這不足以監測在一毫秒的時間尺度上發生的神經活動。對于光遺傳學研究，需要能夠在3D空間中動態和任意形成多個焦點的顯微鏡以監視和操縱發射模式，并且顯微鏡必須能夠進行3D成像以捕獲神經元電路的響應。在掃描雙光子/三光子顯微鏡的激發路徑中添加液晶空間光調制器（SLM），可以將激發源分成幾百個獨立的焦點，并以高達300 Hz的頻率重新配置焦點的3D位置。因此，使用SLM可以傳遞光線，同時可激發多個3D位點的神經元，然后將目標細胞定位在一個體積內以監測神經回路對刺激的反應。這使得在大量細胞群中監測和操縱神經元活動的過程可同步進行。 Yuste首次證明了SLM在光遺傳學中的應用潛力， ...

信息不僅包含物鏡焦平面上的樣品信息，同時包含焦平面外的樣品信息。由于受到焦平面外的信息的干擾，常規熒光顯微鏡無法獲得層析圖像。三維結構光照明顯微鏡提高分辨率、獲得層析圖像的原理，就是利用特定結構的照明光來獲得樣品的高頻信息，采用特定算法在橫向和縱向上擴展樣品頻域信息的同時彌補凹陷帶來的影響。飽和結構照明顯微鏡(SSIM)的原理法國OXXIUS多波長合束激光器應用在Nikon顯微鏡受激發射損耗顯微（STED）在STED顯微術中，有效熒光發光面積的減小是通過受激發射效應來實現的。一個典型的STED顯微系統中需要兩束照明光，其中一束為激發光，另外一束為損耗光。當激發光的照射使得其衍射斑范圍內的熒光分 ...

紋。系統所用物鏡為奧林巴斯NA1.49、100×浸油TIFR物鏡。線性結構光模式時，采集三個方向角上三個相位的熒光圖像（共９張）進行圖像重構；非線性結構光模式則采集６個方向角上５個相位共30幀熒光圖像。當然，為了保證結構光能發生高對比度的穩定干涉，必須調整結構光偏振態。如果需要實時調整，這里我們建議采用1/4波片和1/2波片配合LCC實現。北京大學在應用偏振光結構光超分辨顯微技術（PSIM)研究蛋白在亞細胞結構中的定位和取向時應用Forthdd 公司SXGA—3DM空間光調制器成功提取熒光分子的偶極子方位信息與超分辨結構信息。同時，研究人員進行了大量的生物學實驗來證明其廣泛的適用性，如λ-DN ...

.42），由物鏡OB聚焦到焦平面上，在距離十字交叉口下方3mm處的檢測通道中心形成一個直徑約20μm的近圓形檢測區域，以激發流經檢測區域的細胞產生熒光和散射光。檢測區域的熒光被同一物鏡收集后形成平行光束透過全反射鏡M2反射和多邊緣分色分光器（透射率>93%）透過后，到達分光鏡 DM1（透射率>95%），因此物鏡收集到的熒光約90% x 93%≈86%進入熒光檢測通道。被多邊緣分色分光器透射的熒中，綠色熒光被二色分光鏡DM1反射至熒光檢測通道1（APD1），透過二色分光鏡DM1的黃色熒光被DM2反射至熒光檢測通道2（APD2），透過DM2紅色熒光則被二色分光鏡DM3反射至熒光檢測通道 ...

2λ/NA,物鏡不變的情況下,短波長激發光光斑質量高,空間分辨率高.05 532nm波長激發的樣品由于532nm激發是可見光光中應用最為廣泛的,特此列出此波長激發的樣品.①一般多用于二維材料的測試,像目前研究比較火熱的石墨烯,過渡金屬二硫化物,黑磷之類的層狀二維材料,判定層數,是否摻雜等等.②金屬氧化物：其中有建筑類材料例如氧化鐵氧化銅等無機顏料,還有發光類材料如氧化鎵等.③半導體材料：常用于分析此類材料的缺陷,結晶度,如單晶硅,多晶硅,二氧化硅,硫化鉛等.最后,我想說根據自己的樣品查閱相關文獻來確定激發波長是最為準確的方法. 您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息,或直接來電咨詢4006 ...

過分光鏡到達物鏡，然后聚焦在樣品之上，根據光路可逆，激發的熒光或者產生的拉曼信號經過原來的入射光路反向回到分光鏡，并進入第二個針孔即探測針孔，在探測針孔位置聚焦之后到達探測器，探測器將收集到的信號進行收集并處理最后傳送到計算機上顯示。在這個光路之中，只有焦點上的光才能穿過探測針孔，焦點之外區域的光線在檢測針孔平面位置是離焦的，因而不能穿過檢測針孔，換句話說此時探測器上接收到的信號全部來自于焦點處。如果采用振鏡控制激光光源的偏轉，比如我司共聚焦拉曼成像系統中采用的振鏡掃描系統，光路圖如下（這里采用了無限遠物鏡，所以與上圖光路不太一樣）。振鏡控制激光光束在樣品焦平面上不同位置聚焦（x-y平面），焦 ...

發光是由顯微物鏡照射到樣品上，而不是大家常見的在樣品下方進行透射照明的方式，當然也存在一些使用透射熒光的觀察方式，但是一般來說熒光的發射光是在樣品360度方向都有發射光，而且發射光的強度只有激發光強度的千分之一到百萬分之一的量級，如果跟激發光同方向檢測的話，會很大程度上干擾檢測，成像的信噪比很差，甚至噪聲干擾信號會強于有效信號。圖中就是落射熒光顯微鏡的示意圖在熒光激發方面，我們可以使用汞燈，LED燈等這類常見的照明光源來進行熒光激發，但此類照明方式有著明顯的缺點，在使用第一濾光片濾出單色光之后，其光強度非常的低，使得熒光信號強度也大幅降低，并且此類光源強度隨著使用時間會有非常明顯的功率下降，此 ...

束器；OL:物鏡；IRT:紅外線溫度計；M:鏡子；S:光譜儀；LS:激光源；NF:陷波濾波器；VS:電壓源。插圖顯示了樣品隨溫度變化的介電常數。如上圖為劉洪亮老師課題組搭建的系統光路實驗圖。來自鹵鎢燈(THL)的一束白光被分束器(BS1)反射，然后通過另一個分束器(BS2)和物鏡(OL)照射到KTN樣品。透射光由分光計收集，以測量樣品的透光率光譜。同時，樣品的照明區域由OL成像到一個CCD相機上。對于拉曼測量，532納米的激光束被陷波濾波器和BS2重定向到OL，后者將激光束聚焦到樣品中。拉曼信號由同一個OL收集，并在從BS2反射并通過NF后發送到另一個光譜儀(S2，Nanobase XperR ...

個特定的成像物鏡組將不同位置和大小的物體成像到光纖束的輸入端面。同時為了觀察圖像，也必須有一個后置光學系統，比如說目鏡或光電圖像轉換器件。在設計時應當使成像物鏡的像方數值孔徑與光纖束的物方數值孔徑匹配，后置光學系統的物方數值孔徑也要和傳像光纖的像方數值孔徑匹配。當滿足這一要求的時候，由于軸上物點的成像光束關于光軸對稱，所以能夠全部進入傳像光纖，而軸外物點的一部分光線或者一部分下光線的傾斜角將會超過傳像光纖的數值孔徑角，導致被攔光，使軸外物點的像比軸上物點的像要暗，這是不能允許的。所以，為了軸上物點和軸外物點的全部成像光束都能進入傳像光纖束傳播，應當把成像物鏡設計成像方遠心光路。同理，后置光學系 ...